Messtechnik-Neuheiten

Das Photometer DSP 200 von Instrument Systems deckt einen Messbereich von 0,1 mlx bis 200 klx für alle gängigen Lichtquellen ab und genügt dabei der höchsten Genauigkeitsklasse L nach DIN 5032-7 (2017). Es eignet sich für ultraschnelle Messungen räumlicher Lichtverteilungen mit den Goniophotometern der AMS- oder LGS-Serien.

Als Detektor nutzt das DSP 200 ein Siliziumphotoelement, das durch die eingebaute Kühlung auf 0 °C eine hohe Stabilität und Genauigkeit erreicht. Die Silizium-Photodiode ist exakt an V (λ) angepasst und besitzt eine lichtempfindliche Fläche von nur 6 x 6 mm. Dadurch wird eine hohe örtliche Auflösung erzielt, die sich besonders bei Lichtquellen mit scharfen Gradienten und Applikationen wie blendfreien Scheinwerfern, Pixel-Scheinwerfern und Scans durch die Hell-Dunkelgrenze auszahlt.

Neben traditionellen Lichtquellen lassen sich auch Prüflinge mit pulsweitenmodulierten LEDs bzw. LED-Modulen vermessen. Das gemessene Signal durchläuft einen digitalen Filter, der etwaige Modulationen und Interferenzen erkennt und eliminiert.

Die häufigste Anwendung des DSP 200 sind goniometrische Rastermessungen „on-the-fly“. Die schnelle interne Abtastrate ermöglicht es, Lichtverteilungen pulsweitenmodulierter Lichtquellen unterschiedlichster Taktfrequenzen selbst bei sehr kleinen Tastverhältnissen genau zu messen. Die hohe Datenübertragungsrate gewährleistet die Erfassung selbst hochaufgelöster Raster in kürzester Zeit.