Mixed-Signal-Oszilloskope
Debugging an analogen und digitalen Entwürfen
Fortsetzung des Artikels von Teil 1
Debugging an analogen und digitalen Entwürfen
Um die erfassten Signale in guter Qualität ansehen zu können, verfügen die MSOs von Tektronix über die so genannten Digital-Phosphor-Displays. Sie ermöglichen ein besseres Verständnis des eigentlichen Grundes eines Analogsignals. Zur Verdeutlichung der oberen und unteren Logikpegel eines Digitalsignals kann zusätzlich eine Farbcodierung verwendet werden. Für einige Modelle sind weiterentwickelte Anzeigemöglichkeiten (z. B. Augendiagramme und Jitter) erhältlich. Bereits die Standard-Oszilloskope verfügen über einige ausgereifte Technologien wie z.B. FilterVu, um das Arbeiten mit rauschenden Signalen zu ermöglichen.
»Der wichtigste Aspekt des Mixed-Signal-Oszilloskops ist, dass die Digitalkanäle vollständig in das Oszilloskop integriert sind«, unterstreicht Trevor Smith, Technical Marketing Manager von Tektronix. »Dies ermöglicht dem Anwender die Triggerung über alle Eingangskanäle sowie die automatische zeitliche Korrelation aller analogen, digitalen und seriellen Signale. Mit einigen MSOs können Techniker Probleme im Zusammenhang mit doppelter Tastkopfmessung mit Oszilloskop und Logikanalysator an einer Schaltung vermeiden, bei denen die kapazitive Last so stark ansteigen kann, dass die Messung nicht mehr aussagekräftig ist.« Die iCapture-Analog-MUX-Technologie beim MSO70000 ermöglicht Designern das Weiterleiten von Signalen von digitalen Eingängen über den analogen Erfassungsbereich des Oszilloskops, um Signalintegritätsprobleme genauer untersuchen zu können.
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Die Triggerfunktionen der MSOs finden Signalfehler und steuern diese auf parallele oder serielle Businhalte, um die Erfassung auf die Problembereiche zu konzentrieren. Sind diese erfasst, erfolgt keine Triggerung mehr. Das manuelle Durchsuchen großer Aufzeichnungslängen ist jedoch mühsam und zeitraubend. Tektronix hat dazu die ASM-Tools (Advanced Search and Mark) entwickelt, mit denen der Anwender wichtige Ereignisse wie schnelle oder langsame Übergänge, Setup/Hold-Störungen oder logische Muster innerhalb langer Aufzeichnungen leichter identifizieren kann. Mit der Zoom-Funktion lassen sich die Signale detailliert untersuchen. Ein weiteres Feature der Tektronix-MSOs ist die Funktion Wave Inspector, mit der der Anwender die zu untersuchenden Ereignisse identifizieren, markieren und zwischen ihnen navigieren kann. Zu diesen Ereignissen zählen Kanten, Pulsbreiten, Runts, Setup/Hold-Zeiten, Logik, Anstiegs- und Abfallzeiten und Busdatenwerte. Darüber hinaus verfügen die meisten MSOs über Funktionen zur automatischen Dekodierung, die einen schnellen Einblick in Systemebenenprobleme ermöglichen.
Analyse – Beschleunigung der Entwurfs- und Konformitätsprüfung
Hat man die erforderlichen Daten erfasst und die zu untersuchenden Punkte identifiziert, gilt es, diese zu verstehen. Dazu bietet Tektronix unterschiedliche Analysewerkzeugen an, wie etwa SMPS-Stromversorgungs- und Leistungswandleranalyse, serielle Daten-Jitter- und Augendiagrammanalyse sowie Standard-Konformitätsprüfungen, DDR-Speicherbusanalyse und Breitband-Vektorsignalanalyse. Diese Tools bieten einheitliche, automatische Messungen und Analysekennzahlen (z.B. Trenddaten und -diagramme, Spektralinhalte und Mehrfachdiagramm-Displays).
Letztendlich ist es aber nicht nur wichtig, dass ein MSO gegenwärtige Anforderungen erfüllt, sondern es muss auch für die immer komplexer werdenden integrierten Systeme der Zukunft gerüstet sein. Und auch auf diesen Aspekt hin entwickelt Tektronix seine Oszilloskop-Serien kontinuierlich weiter.
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