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Bauteil-Abkündigungen begegnen

Redesign von digitalen und Mixed-Signal-ASICs

26. Februar 2015, 10:14 Uhr | Irina Hübner

Kundenspezifische ASIC-Lösungen

Für Unternehmen, die von Bauteilabkündigungen betroffen sind, bietet MAZeT das Redesign von digitalen und Mixed-Signal-ASICs an. Dabei gilt: Je vollständiger die Datenbasis und Dokumentation, desto weiter verringert sich der Redesign-Aufwand.

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Je nach Anforderungen stehen für das Redesign digitaler ASICs unterschiedliche Methoden zur Verfügung, darunter maskenprogrammierbare Verfahren, Standard-Zell-Technologien oder auch das Ersetzen durch einen programmierbaren Logikbaustein. Bei Mixed-Signal-ASICs muss je nach Baustein ein unterschiedlich großer Analogteil berücksichtigt werden.

„ASICs haben oft eine eher kurze Bauteil-Verfügbarkeit von sechs bis acht Jahren. Auch die Lagerhaltung ist meist auf höchstens zwei Jahre eingeschränkt“, meint Dr. Fred Grunert, Geschäftsführer von MAZeT. „Hier wollen wir mit unserem Redesign Abhilfe bieten. Das Redesign verlängert nicht nur die Verfügbarkeit, sondern es ist damit auch möglich, den ASIC zu optimieren.“ MAZeT entwickelt den neuen ASIC funktions- und anschlusskompatibel zum Original-ASIC, um den Folgeaufwand gering zu halten. Die Wahl der Halbleiterprozesse erfolgt nach der Maßgabe, dass diese lange verfügbar sind.

Das erfolgreiche Redesign eines ASICs ist an einige Voraussetzungen gebunden. Je mehr davon erfüllt sind, desto geringer sind Entwurfsrisiko, die Entwicklungszeit und die Kosten für das Redesign. Wichtig sind eine möglichst detaillierte technische Dokumentation des ASICs inklusive Pflichtenheft, Schaltplan, Hochsprachenbeschreibung, Netzliste und Datenblatt, um die Funktionskompatibilität sicherzustellen. Die Testvektoren und -umgebung sind entscheidend für den Nachweis der Funktionalität für die Serienproduktion.

Auch die Beschreibung des dynamischen Verhaltens ist wichtig, denn die logischen Elemente wie Gatter, Flip-Flops und Speicher weisen in einer anderen Halbleitertechnik oft andere Verzögerungszeiten auf und die analogen Transistoren haben ein anderes elektrisches Verhalten. Weitere Voraussetzungen sind das Testprogramm für den Schaltkreistester, die ausführliche Dokumentation der elektrischen Funktionalität des ASICs, die elektrische Charakterisierung des Eingangs-/Ausgangsverhaltens, das Betriebsspannungskonzept, das ESD- und EMV-Konzept sowie GDS2-Datensatz.