Interview mit Leo Lorenz, ECPE
»Neue Fehler tauchen immer wieder auf«
Robustheit und Zuverlässigkeit sind stets wiederkehrende Themen bei den Leistungshalbleitern. Das hat nicht nur mit den neuen Wide-Bandgap-Materialien zu tun. Auch bei Silizium stellen sich diese Herausforderungen immer wieder neu. Dazu fragen wir…