PCIe 3 und Co
Schnelle Schnittstellen testen
Die Übertragungsgeschwindigkeiten serieller Schnittstellen werden
immer größer. Für Funktionstests in Entwicklung und Fertigung von
hochintegrierten „System On Chip”-Halbleitern müssen sich auch die
Testsysteme weiterentwickeln. Ein Ergebnis ist…