Firma

Advantest Europe GmbH

Tests von Hochfrequenz-Halbleitern

Noch mehr Parallelität

Die neuen Advantest V93000 Wave Scale Karten ermöglichen den Test von Hochfrequenz-Halbleitern der aktuellen und nächsten Generation. Bei bis zu acht Bauteilen können gleichzeitig mehrere Standards und mehrere Pfade pro Bauteil getestet werden.

Advantest

Die-Handler für Known-Good-Die-Tests

Als kostengünstige Testlösung für die KGD-Sortierung (Known Good Die) vor dem IC-Packaging…

Advantest

Flexibles Memory-Testsystem

Als kostengünstige Testlösung für UFS-Bauteile (Universal Flash Storage) und…

Advantest

EVA100-Produktionsmodell

Speziell für die Serienproduktion von Sensoren und Analog- und Mixed-Signal ICs mit…

Test system for volume production of Sensors,…

Resolving the challenges of production test

Semiconductor test equipment supplier Advantest showcases the newest model of its EVA100…

Internet der Dinge

Die nächste ATE-Herausforderung

Durch das zunehmende Angebot „intelligenter“ Gegenstände drängt sich das Internet der…

Prüft DRAM- und NAND-Flash-Speicher

Multifunktionaler Memory-Tester

Sowohl für den Wafer Sort als auch für den Endtest unterschiedlichster Speicher-Bausteine…

Bauteil- und Geräte-Tests

Neue Technik, neue Tests

Entwicklungen neuer Techniken und immer kleinerer und besserer Bauteile erfordern Tests,…

PCIe 3 und Co

Schnelle Schnittstellen testen

Die Übertragungsgeschwindigkeiten serieller Schnittstellen werden immer größer. Für…

Advantest

Tester für die SSD-Entwicklung

Für den parallelen Test von bis zu acht Solid State Disks ausgelegt ist die MPTS3000ES…