Firma

Advantest Europe GmbH

Testlösungen für Smart Devices

Große Herausforderungen

Smart Devices, hochintegrierte Chips aus Sensor, Prozessor und Kommunikationsschnittstelle sind für automatische Testsysteme schwer zu bewältigen, auch da trotz großem Funktionsumfang immer weniger Bauteilpins zur Verfügung stehen. Wie kann ein…

electronica 2016

Highlights aus der Messtechnik

Diese Messtechnik-Highlights sollten Sie auf der electronica 2016 nicht verpassen!

IC-Testsysteme

bsw vertreibt Advantests EVA100-Plattform

Ab sofort übernimmt bsw TestSystems & Consulting den Vertrieb für das neue…

Tests von Hochfrequenz-Halbleitern

Noch mehr Parallelität

Die neuen Advantest V93000 Wave Scale Karten ermöglichen den Test von…

Advantest

Die-Handler für Known-Good-Die-Tests

Als kostengünstige Testlösung für die KGD-Sortierung (Known Good Die) vor dem IC-Packaging…

Advantest

Flexibles Memory-Testsystem

Als kostengünstige Testlösung für UFS-Bauteile (Universal Flash Storage) und…

Advantest

EVA100-Produktionsmodell

Speziell für die Serienproduktion von Sensoren und Analog- und Mixed-Signal ICs mit…

Test system for volume production of Sensors,…

Resolving the challenges of production test

Semiconductor test equipment supplier Advantest showcases the newest model of its EVA100…

Internet der Dinge

Die nächste ATE-Herausforderung

Durch das zunehmende Angebot „intelligenter“ Gegenstände drängt sich das Internet der…

Prüft DRAM- und NAND-Flash-Speicher

Multifunktionaler Memory-Tester

Sowohl für den Wafer Sort als auch für den Endtest unterschiedlichster Speicher-Bausteine…