Produkt

System-on-Chip/ASICs/ASSPs

Herausforderung Zuverlässigkeit

Überwachung von ICs

Die Überwachung und Regelung von stark belasteten Bauelementen in ICs stellt eine neue Strategie zur Erhöhung der Zuverlässigkeit da. Ein Beispiel dafür ist das Monitoring von schädlichen Stoßionisationsprozessen durch nahe am Transistor integrierte…

Vorbild Natur

Chips die Schmerz empfinden, können sich selbst heilen

Um Transistoren weiter miniaturisieren zu können, sind viele Zuverlässigkeits-Probleme zu…

WSTS/ESIA

Starkes Halbleiter-Wachstum in Europa

Im Juni 2017 stieg der Umsatz mit Halbleitern in Europa laut der ESIA wieder kräftig auf…

Entwickler-Interview

ASIC-Design mit Virtuellen Prototypen

Neuartige "Virtuelle Prototypen" modellieren ein gesamtes SoC in SystemC. Die Kombination…

Sommernachtsfest 2017

Die Menschen hinter den Pressemitteilungen feiern

Eingeladen zum WEKA-Sommernachtsfest am 29. Juni waren auch viele, die für namhafte…

Broadcom

FTC genehmigt Brocade-Übernahme gegen Auflagen

Broadcom kommt der Forderung der FTC nach und baut eine Firewall, um nach dem Kauf von…

Neue Mikroarchitektur von ARM

Bereit für künstliche Intelligenz

Basierend auf der big.LITTLE genannten Prozessorarchitektur, mit bis zu acht Kernen in…

Mentor Graphics

Sicherung und Schutz von Daten auf vernetzten IoT-Geräten

Durch Verwendung von ARMs TrustZone-Technologie zusammen mit einem Type-1-Hypervisor…

Kommentar

Nur nicht verunsichern lassen – frischer Mut für 2017!

Gut zu den Festen gespeist, kräftig gefeiert – jetzt fragt sich der Mensch ernüchtert: Was…

Analyseverfahren spart Rechenzeit

Polynome schneller auf Primitivität prüfen

Rückgekoppelte Schieberegister werden für Sicherheitsanwendungen mit einem primitiven…