Die Überwachung und Regelung von stark belasteten Bauelementen in ICs stellt eine neue Strategie zur Erhöhung der Zuverlässigkeit da. Ein Beispiel dafür ist das Monitoring von schädlichen Stoßionisationsprozessen durch nahe am Transistor integrierte…
Um Transistoren weiter miniaturisieren zu können, sind viele Zuverlässigkeits-Probleme zu…
Der lineare Arbeitsbereich von Instrumentenverstärkern wird üblicherweise als Fläche in…
Daniel Durn, Chief Financial Officer (CFO) bei NXP Semiconductors, verlässt das…
Der Aufbau eines Multi-Chip-Moduls kann Vorteile haben, z.B. wenn, wie bei Kopplern, eine…
Eingeladen zum WEKA-Sommernachtsfest am 29. Juni waren auch viele, die für namhafte…
Semtech steigt mit der Übernahme von AptoVision Technologies in den Pro-AV-Markt ein.
Seit neun Jahren arbeitet Texas Instruments an einem Radarsensor-IC, mit dem Radarsensoren…
Sperrwandler mit primärseitiger Regelung können statt Optokoppler auch eine Hilfswicklung…
MaxLinear und der Mixed-Signal-IC-Hersteller Exar haben eine Kaufvereinbarung…