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Automated Test Equipment

Verigy: Direct-Probe-Lösung für SoC-Tester

1. Dezember 2010, 17:56 Uhr | Nicole Wörner

Verigy verbessert die Skalierbarkeit seiner V93000-SoC-Tester mittels einer Direct-Probe-Test-Funktion für digitale, Mixed-Signal- und Wireless-Kommunikations-ICs mit hohem Pin-Count.

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Weil damit die mechanische Schnittstelle zwischen Wafer und Tester entfällt, reduziert der mit der Direct-Probe-RF-Lösung ausgestattete V93000 die Länge der Signalleitungen sowie die Anzahl der Signalübergänge und sorgt damit für eine bessere Signalintegrität beim Testen von HF-Bausteinen.