Testsysteme

6-Gbit/s-Bausteine auf dem Prüfstand

Herausforderung: Test von „High-Speed ICs“

Waren extrem hohe „Per-pin-Datenraten“ bisher vorwiegend bei schnellen seriellen Schnittstellen wie zum Beispiel PCI-Express, Rapid I/O oder Serial ATA anzutreffen, so stoßen kommende DRAM-Generationen wie GDDR3/4 oder XDR in den Bereich 2 Gbit/s und…

Ground Bounce – die Pest des Testens?

Unter der Bezeichnung „Ground Bounce“ ist ein Phänomen bekannt, das die chipinterne…

Mixed-Signal-IC-Tester

Sowohl für die Fertigung als auch für Entwicklung und Service eignet sich das…

© TESTiLABS

Neues Angebot für Test-Dienstleistungen

»Das Uber des Testens«

Die finnische Firma TESTiLABS will in der Test-Branche ein neues Geschäftsmodell…

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Parameter-Messsystem für Bauelemente

Für Messungen an Wafern, ICs, MEMS, PCBs und Life-Science-Komponenten eignet sich das…

Zwei neue »System-SourceMeter«

Keithley Instruments hat seine »System-SourceMeter«-Familie 2600 um die Modelle 2611 und…

Parameter-Messsystem für Bauelemente

Für Messungen an Wafern, ICs, MEMS, PCBs und Life-Science-Komponenten eignet sich das…

Leichte Kontaktwinkelmessung

Mit den neuen Optionen für die optischen Kontaktwinkelmeter »CAM-100« und »CAM-200« von…

Micro System Analyzer

Polytecs Micro System Analyzer »MSA-400« verbindet dynamische und geometrische…

Mixed-Signal-IC-Tester

Sowohl für die Fertigung als auch für Entwicklung und Service eignet sich das…