Testsysteme

Advantest

Testsystem für DDR4- und LPDDR4-Speicher

Für den hochparallelen Test von DDR4- und LPDDR4-Speicher-ICs hat Advantest das Testsystem T5503HS entwickelt. Es erreicht eine Testgeschwindigkeit von bis zu 4,5 Gbps und ist somit schnell genug für den Test der maximalen Datenrate von 4,266 Gbps…

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© Göpel electronic

Röntgeninspektion

Göpel und Scienscope kooperieren

Aus einer strategischen Zusammenarbeit zwischen Göpel electronic und dem US-amerikanischen…

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JTAG Technologies

IJTAG-Test- und Debug-Tools

JTAG Technologies gilt als einer der Vorreiter hinsichtlich des Tests und Debuggings von…

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© Fraunhofer IWS Dresden / Frank Höhler

Material- und Dauerfestigkeitstests

Neues HF-Prüflabor für Bauteilermüdung

Am Fraunhofer IWS ist ein neues Hochfrequenz-Ermüdungslabor in Betrieb gegangen. Dort…

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© SPEA

SPEA

Flying Prober mit neuem Antriebskonzept

Der neue Flying-Probe-Tester 4050 von SPEA wartet mit einigen in dieser Form noch nicht…

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Vermessung von Leuchtmitteln

Ab in die Kugel

Wer Leuchtmittel entwickelt - seien es LED-Module, Gühlampen oder »Energiesparlampen« -…

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© Instrument Systems

Display-Vermessung

Bildschirme mit Charakter

Wo bis vor kurzem fast ausschließlich Röhrenmonitore zum Einsatz kamen, haben sich in…

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Testverfahren

Die Geschichte einer Baugruppenprüfung

Lästig, aber unverzichtbar: Die Prüfung komplexer Baugruppen ist aufwendig und erfordert…

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© Anritsu

Analysatoren

110 GHz auf dem Wafer analysieren

Prüfingenieure von Halbleiterherstellern haben in Bezug auf On-Wafer-Testverfahren mit…

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© Rohde & Schwarz

Rohde & Schwarz

Schaltmatrix für die Vektornetzwerkanalyse mit bis zu 48 Messtoren

Für die Vermessung von Mehrtorkomponenten hat Rohde & Schwarz die Schaltmatrix R&S ZN-Z84…

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