Fraunhofer IPMS startet Projekt »SMut«

Neues Level der Dünnfilmcharakterisierung

18. März 2026, 7:00 Uhr | Heinz Arnold
Chip als Grundlage zur hochpräzisen elektrischen Untersuchung von Schichten.
© Fraunhofer IPMS

Im Rahmen des Projekts »SMut« entwickelt das Fraunhofer IPMS mit zwei Partnern ein neues Messsystem zur Dünnfilmcharakterisierung, das neue Maßstäbe in der Charakterisierung organischer Materialien setzt.

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Erst kürzlich hatte das Fraunhofer IPMS und die Partner Credoxys und SweepMe! neue Chips und Messadapter zur Dünnfilmcharakterisierung für Materialien aus der organischen Elektronik sowie der dünnfilmbasierten Gas-Sensorik vorgestellt. Auf dieser Basis wurde das öffentlich geförderte Projekt »SMut« ins Leben gerufen. 

Das neue Messsystem wird aus einer Basisstation und mehreren Proben-Carriern bestehen, die bereits in einer Glovebox mit Forschungsproben bestückt werden können. Damit wird es möglich sein, verschiedene elektrische und photoelektrische Experimente unter unterschiedlichen Gasen, Drücken und Temperaturen durchzuführen. »Der Probencarrier soll in einer Glovebox handhabbar und unter Schutzgas entnehmbar sein sowie Langzeitmessungen über mehrere Wochen erlauben«, erläutert Dr. Alexander Graf, Projektleiter am Fraunhofer IPMS.

Passiver Prober zur halbautomatisierten Messung mit Stand zu Projektbeginn. Dieser Prober soll mit Messelektronik, Software erweitert werden, so dass unkompliziert und automatisiert Materialbewertungen durchgeführt werden können.
Passiver Prober zur halbautomatisierten Messung mit Stand zu Projektbeginn. Dieser Prober soll mit Messelektronik, Software erweitert werden, so dass unkompliziert und automatisiert Materialbewertungen durchgeführt werden können.
©  Fraunhofer IPMS

Dank der Softwareentwicklung von SweepMe! kann nahezu jedes Messgerät und jede Messroutine intuitiv konfiguriert werden. »Die von uns im Projekt zu entwickelnde Software ermöglicht erstmals eine intuitive und out-of-the-box nutzbare Charakterisierungsplattform«, fasst Dr. Axel Fischer, Geschäftsführer von SweepMe!, die Projektziele zusammen.

»Der Aufwand, den wir derzeit in die Charakterisierung unserer OLED-Materialien stecken, ist enorm. Vor allem Langzeitmessungen unter kontrollierter Atmosphäre und Temperatur sind aktuell besonders herausfordernd. Mit diesem System wird ein neues Level der Dünnschichtcharakterisierung erreicht. Die Reproduzierbarkeit und die Messmöglichkeiten sind sensationell«, sagt Dr. Jörn Vahland, Materialentwickler von Credoxys.

Das Grundkonzept und der prinzipielle Systemaufbau stellt das Fraunhofer IPMS auf der Analytica am Messstand in Halle A3, Stand 312, vor. Individuelle Termine können vorab über die Webseite des Fraunhofer IPMS vereinbart werden.

 


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