Fraunhofer IPMS startet Projekt »SMut«
Neues Level der Dünnfilmcharakterisierung
Im Rahmen des Projekts »SMut« entwickelt das Fraunhofer IPMS mit zwei Partnern ein neues Messsystem zur Dünnfilmcharakterisierung, das neue Maßstäbe in der Charakterisierung organischer Materialien setzt.