Halbleiter-Charakterisierungssystem für Solarzellentest erweitert
Fortsetzung des Artikels von Teil 1
Halbleiter-Charakterisierungssystem für Solarzellentest erweitert
Der Frequenzbereich der bestehenden 4200-CVU-Kapazität-Spannungs-Karten hat Keithley für DLCP-Tests von 10 kHz bis 10 MHz auf 1 kHz bis 10 MHz erweitert. Mit dem vergrößerten Frequenzbereich wird auch der Test von LCDs und organischen Halbleitern wie z. B. OLEDs mit dem 4200-SCS möglich.
Im Hinblick auf die Anforderungen an mehr Steckplätze unterstützt der Upgrade V7.2 nun ein Instrumenten-Chassis mit neun Steckplätzen. Bislang verfügte das Modell 4200-SCS nur über acht Steckplätze für Source-Measure-Units (SMUs), Impulsgenerator- und Oszilloskopkarten sowie Kapazität-Spannungskarten. Bestehende Systeme des Modells 4200-SCS können auf neun Steckplätze umgerüstet werden; alle neuen Grundsysteme verfügen künftig über neun Steckplätze.
In Ergänzung zum Upgrade V7.2 hat Keithley ein neues leistungsfähiges Triax-Kabelset für die Verbindung des Modell 4200-SCS mit einem Prober entwickelt, das die Umschaltung zwischen DC I-V-, C-V- und Impulstest-Konfigurationen vereinfacht. Durch das neue Kabelset ist keine Änderung der Verkabelung mehr notwendig, zudem lassen sich die meist durch Verbindungsfehler verursachten Messfehler vermeiden. Zwei Versionen des Kabelsets sind verfügbar: eines für Cascade Microtech Prober, das andere für SUSS MicroTec Prober.
Die Version 7.2 von KTEI ist für Anwender des 4200-SCS-Testers ab sofort kostenlos erhältlich. Allerdings fallen Kosten für die Kalibrierung der erweiterten 4210-CVU-Karte und für das Upgrade bestehender 4200-SCS-Modelle für eine Unterstützung von neun Steckplätzen an.
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