PC-Messtechnik

Mit Rück- und Ausblick von Dr. Truchard

»NI Automated Test Outlook 2017« erschienen

Der »NI Automated Test Outlook 2017« von National Instruments gibt Aufschluss über die wichtigsten Prüfansätze für das Zeitalter der Smart Devices. Besonderes Schmankerl: Ein Vorwort und Gastkommentare vom NI-Mitbegründer Dr. James Truchard.

Pickering Interfaces

20 neue PXI-Multiplexer

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Neues MATLAB-Interface für USB-Messmodule

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Spectrum / PC-basierte Messtechnik

PXIe-Digitizer für breitbandige Anwendungen

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Novotronik

Schaltmatrix für 40GBase-T-Tests

In Kombination mit einem Spektrumanalysator verspricht die 20-GHz-Schaltmatrix GTS3698 von…

Leistungselektronik / Messtechnik

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Semikron und National Instruments haben ein Technologieabkommen geschlossen. Ziel ist es,…

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National Instruments / VIP 2016

Offenheit zahlt sich aus!

Knapp 700 Besucher kamen zu dem Anwenderkongress »Virtuelle Instrumente in der Praxis« von…

Dr. James Truchard dankt als CEO ab

Wechsel an der Führungsspitze von National Instruments

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National Instruments / NI Week 2016

Von TSN bis Edge Computing

Insgesamt 3100 Entwickler aus 58 Ländern pilgerten Anfang August 2016 wieder nach…