Neues aus der Mess- und Prüftechnik

4-Achsen-Positionierungssystem mit hochauflösender Nahfeldmessung

Der IC-Scanner ICS 105 von Langer EMV-Technik ermöglicht die Messung von hochfrequenten Nahfeldern über ICs.

Je nach verwendeter ICR-Nahfeldmikrosonde können magnetische oder elektrische Felder mit einer Messauflösung von 50 bis 100 µm gemessen werden.

Die Sonde lässt sich auch automatisch drehen, um die Richtung des Magnetfeldes zu bestimmen. Optional kann der ICS 105 Scanner in Kombination mit dem Universalhalter UH-DUT und dem Sondenhalter SH 01 für Messungen über kleinen Baugruppen eingesetzt werden. Damit lässt sich der IC-Scanner mit wenigen Handgriffen für ESD- oder EFT-Störfestigkeitsprüfungen an ICs einrichten.