Ultra-hochauflösendes Reflektometer
Das High-Resolution Reflectometer »AQ7420« von Yokogawa erfasst präzise die Position und Intensität von Reflexionen in optischen Steckern und Modulen. Es erkennt Mikrorisse, die bei herkömmlichen Dämpfungs- und OTDR-Messungen unentdeckt bleiben und eignet sich daher ideal für die Prüfung von optischen Steckern, die in kritischen Infrastrukturen wie Rechenzentren, Mobilfunkmasten, Unterwasser oder im Weltraum eingesetzt werden. Ebenso eignet sich der AQ7420 für die präzise Bewertung von Reflexionen innerhalb von Bauteilen optischer Module wie etwa Laser-/Photodioden, Sensoren oder PICs. Das Gerät bietet eine Auflösung von 40 μm auf einen Messbereich von 100 mm. Der niedrige Rauschpegel von -100 dB erlaubt die Detektion kleinster Reflexionen bis 100 dB und verhindert Artefakte. Mehrere Ereignisse – und mit dem optionalen Sensorkopf auch die Einfügedämpfung – können so simultan gemessen werden. Dank der gleichzeitigen Verwendung zweier (optional) Wellenlängen (1310/1550 nm) verringert sich der Messaufwand im Vergleich zu herkömmlichen Methoden deutlich.
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