Firma

Metrologiegerät MicroProf AP

Integriertes Messgerät für die Mikrochip-Produktion

FRT bringt den MicroProf AP auf den Markt. Das vollautomatische Metrologiegerät wurde speziell für anspruchsvolle Anwendungen im 3D-IC-Packaging entwickelt. Damit können Messaufgaben entlang der gesamten Prozesskette gelöst werden — Wafer und Panels,…

Potenzial der Nanotechnologie

FRT unterstützt »Nano in Germany«

Im Rahmen der Hannover Messe 2012 wurde erstmals die wichtigsten Akteuren der Branche die…

Wachstumstreiber Internationalität und…

FRT erzielt erneut Rekordergebnis

Fries Research & Technology (FRT), Spezialist für Multisensor-Oberflächenmesstechnik und…

»Semiconductor Equipment Assessment Leveraging…

Europäisches Halbleiterprojekt SEAL: Erstes Jahr erfolgreich abgeschlossen

Ein positives Fazit gab es für das EU-finanzierte Projekt »Semiconductor Equipment…

FRT prophezeit der optischen 3D-Messtechnik eine…

Optische Oberflächenmesstechnik erobert die Produktion

In der Forschung & Entwicklung ist die optische Oberflächenmesstechnik schon lange…

Vollautomatisierte Oberflächenmesstechnik als…

FRT visiert erneut zweistelliges Wachstum an

Weiterhin kräftigen Rückenwind verspürt Fries Research & Technology (FRT), Spezialist für…

Oberflächenmesstechnik

FRT mit Auftragseingangsrekord

»Die Krise scheint überwunden, wir sind in einer rasanten Wachstumsphase«, erklärt Dr.…