Elektronik

Neuer Ansatz für optimale Testmuster

Kritische Bereiche liefern die effizientesten Testmuster

Fokussiert auf die kritischen Bereiche lassen sich mit automatischen Testmustergeneratoren die effektivsten Testmuster erzeugen und auswählen. Damit sind hochwertige Tests von IC-Entwürfen in kürzerer Zeit möglich.

Kontron erweitert Portfolio

Software für PiXtend, Medical-PC und SBC

Der Augsburger Embedded-Spezialist erweitert die Möglichkeiten für Entwickler und...

Stromkreisschutz

Zuverlässig kabellos laden

Vom Smartphone über den Barcode-Scanner bis zum Blutzuckertester – immer mehr...

Timing Analyse

Software Analyzer winIDEA mit Sampling-based Profiling

Sein IDE-, Debug- und Software-Trace-Tools winIDEA Analyzer hat iSystem um...

Echtzeitbetriebssystem

VxWorks unterstützt Intels Industrie-SoCs für KI

Um die Fähigkeiten der neuen Intel-Prozessoren auszunutzen, hat Wind River sein...

Software-Defined Vehicle

Arbeitsgruppe für das Software-definierte Fahrzeug gegründet

Die Eclipse Foundation hat gemeinsam mit Bosch, Microsoft und anderen Unternehmen eine...

Mobilfunk-Studie

5G entscheidend für das Erreichen von Europas Klimazielen

In seiner neuen Studie »Connectivity and Climate Change« kommt Ericsson zu dem...

Echtzeit-Betriebssystem

Integrity-RTOS jetzt auch für RISC-V

Sein RTOS Integrity, das speziell für sicherheitskritische Anwendungen entwickelt...

Embedded-RTOS

Ohne periodische Tick-Interrupts

Mit Cycle-resolution Timing kann das Echtzeit-Betriebssystem (RTOS) embOS-Ultra auf den...

Hardware-Tracing

Eine unterschätzte Debugging-Technik

Für das Debuggen von Software gibt es bewährte Techniken wie interaktives Debugging und...