Elektronik

Schmuckbild Leiterplatte
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Resonanzen auf Leiterplatten erkennen

Simulationstools sichern EMV-gerechtes PCB-Design

Antennenähnliche Strukturen auf Leiterplatten sind eine häufige Ursache für EMV-Probleme. Bleiben sie unerkannt, kann das zu bösen Überraschungen führen. Mit Simulationstools lassen sich kritische Resonanzen frühzeitig identifizieren und gezielt entschärfen – bevor erste Prototypen gefertigt werden.

Eröffnung electronic displays Conference 2025
© Uwe Niklas

Innovation als Schlüssel

electronic displays Conference 2026: Call for Papers gestartet

Am 11. und 12. März 2026 findet Europas größte Konferenz für elektronische Displays und...

USB-Schnittstelle für extreme Bedingungen
© Fischer Connectors

Mit Ratchet Locking System

USB für extreme Bedingungen, vibrations- und stoßfest!

Fischer Connectors bringt eine hochzuverlässige Variante des USB-C-Steckverbinders auf...

Pollux
© Phytec

i.MX 8M Plus und i.MX 95

Phytec: Embedded Vision auf Basis von NXP-Prozessoren

Embedded-Vision-Anwendungen erfordern flexible, performante Prozessoren; Beispiele sind...

Michael/stock.adobe.com
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Flexible Integration und Plug-and-Play

Embedded-MIPI-Vision im Baukasten-Prinzip

Kompakt, preisgünstig und robust: MIPI-Kameramodule bieten für...

Behringer Peter
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»Kompaktheit & KI sprechen für Embedded«

Was tut sich auf dem Markt für Embedded Vision?

Welche Trends zeigen sich derzeit bei Embedded Vision? Welche Vor- und gegebenenfalls...

IM Imagery/stock.adobe.com
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Vom Bildsensor bis zum System-on-Module

Wege zur Optimierung von Embedded Vision

Neue Bildverarbeitungs-Anwendungen boomen, von Cobots in der Produktion und Logistik...

Das Thema Embedded-/Edge-KI steht an den Elektronik AI Solution Days am 16. September 2025 in Nürnberg im Mittelpunkt.
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Alles Wissenswerte zu Embedded-/Edge-KI

Elektronik AI Solution Days: Know-how-Quelle zu Embedded-KI

Embedded-System-Entwickler, Applikationsingenieure und Produktionsexperten sollten sich...

Software, Virtualisierung, Vernetzung
© Adobe Stock / ktsdesign

Siemens EDA

Paketbasierter Test reduziert Aufwand bei DFT

Das Tessent Streaming Scan Network (SSN) von Siemens EDA entkoppelt DFT-Anforderungen...

Fehlende Software-Überwachung kann gravierende Folgen haben.
© ArtemisDiana / shutterstock.com

Continuous Observability in CRA-Zeiten

Kontinuierliches Monitoring wird entscheidend

Der CRA setzt klare Vorgaben für die Embedded-System-Security: Hersteller müssen ihre...