embedded world 2017: Highlights aus der Halle 3
2. März 2017, 20 Bilder
Yamaichi Electronics (Halle 3, Stand 301) zeigt einen neuen Testadapter für den CoM-Standard SMARC mit möglichst guter Kontaktausrichtung unter 100-prozentiger Kontaktsicherheit. Zur nachhaltigen Verbindung kommen Federkontaktstifte zum Einsatz. Der SMARC-Testadapter ist ein impedanzkontrolliertes System nach SGeT-Spezifikation für Evaluierungs- und Zuverlässigkeitstests von –30 °C bis +85 °C. Die CMT-Kontaktierung spart Lötarbeiten.