Startseite > Messen + Testen > Testsysteme > »Unattended Test« - Wunsch oder Wirklichkeit?

Baugruppentest

»Unattended Test« - Wunsch oder Wirklichkeit?

28. März 2013, 16:45 Uhr | Nicole Wörner

▶ Diesen Artikel anhören

Fortsetzung des Artikels von Teil 1

Höchste Automatisierung: Der unattended Test

Einen noch höheren Automatisierungsgrad ermöglicht das so genannte »Unattended Testing«, bei dem das Testsystem nicht nur vollautomatisch be-/entladen wird, sondern bei dem es auch interaktiv mit dem übergeordneten ERP-System (Enterprise Ressource Planning) kommuniziert und alle aktuellen Daten vom Server bezieht. Über eine RFID-Codierung der Baugruppen beziehungsweise des Baugruppenträgers sowie der Ober- und Unterseite des Prüfadapters werden automatisch alle möglichen Fehlerquellen abgefragt und somit eine Fehlbedienung oder gar ein Crash vermieden. Anschließend wird die richtige Version des Testprogramms (Bestückungsvarianten bzw. Ländervarianten sowie Testdaten und Toleranzen) geladen, und wie bei fast jeglicher Automobilelektronik müssen noch Controller und Flash-Bausteine programmiert werden, wobei die Daten dafür baugruppenspezifisch interaktiv vom Server geladen werden. Nach dem Testen und Programmieren der Bausteine werden die Testergebnisse in das ebenfalls übergeordnete Traceability-System hochgeladen und abgespeichert und dort, wie gesetzlich gefordert, über 15 Jahre gespeichert, um beispielsweise bei Autounfällen den Nachweis erbringen zu können, dass alle Entwicklungs- und Fertigungsparameter eingehalten wurden.

»In der Realität bedeutet Automatisierung nicht Arbeitsplätze zu reduzieren oder darauf zu verzichten, ein System zu betreuen«, betont Hauptmann. »Vielmehr bedeutet es, in einer konstanten Art einer Standard-Prozedur zu folgen – und zwar kontrollierbar, wiederholbar, messbar und zertifizierbar. Zu überwachen, was ausgeführt wurde, eine Prozedur in einer absolut wiederholbaren Art und Weise auszuführen, die Fähigkeit zu besitzen, statistische Parameter zu erfassen und zu zertifizieren, das ist das Grundkonzept für eine hohe Prozessqualität.«

Um diese konstanten Anforderungen der Automation des automatischen Tests zu erreichen, bietet Seica mittlerweile für jede Produktlinie eine automatisierte Version des klassischen Testers an. Dank der so genannten VIP-Plattform sind alle Produktlinien hinsichtlich Programmaustausch und Prüfadapter voll kompatibel, so dass eine komplette Portierbarkeit vom manuellen zum automatisierten System und umgekehrt garantiert ist.

Durchgängiges ICT-/FKT-Konzept

Auf dieses Konzept hin hat Seica auch seine In-Circuit-/Funktionstester-Serie Compact entwickelt: beginnend bei den automatischen Testsystemen Compact TK und Compact Multi mit manueller Be-/Entladung von Baugruppen, bis hin zum Compact-SL-System, das ausgestattet ist mit einem SMEMA Conveyer für den automatisierten Transport der zu testenden Produkte, sowie mit einer voll motorisierten Niederhalterpresse - wobei der Anwender die gleichen Prüfadapter nutzen kann, wie bei den manuellen Systemen.

Das Compact SL kommt in einer kompakten Bauform daher – wie die manuellen Tester ist es nur 60 cm breit. Dank des Zugriffs auf die internen Komponenten von vorne und hinten ist es einfach zu bedienen und zu warten. Zudem ist es mit den diversen Sicherheitsmaßnahmen ausgestattet wie etwa einer optischen Barriere vorne. Des Weiteren wird die weiter oben beschriebene automatische Erkennung mittels RFID eingesetzt. Dadurch wird bei einem vollautomatischen Inline-Betrieb vermieden, dass ein eventuell falsch eingesetzter Prüfadapter, der nicht zum Testprogramm passt, die Prüflinge und sich selbst zerstört. Wie alle Systeme der Compact Linie, ist auch die automatisierte SL-Version in einer Paralleltest-Version lieferbar, um vollständig simultanes Testen von vier Baugruppen mit einem einzigen Testprogramm durchzuführen. Durch die Ausstattung des Systems mit einer vierfach-Parallelelektronik-Architektur vervierfacht sich die Produktivität, ohne dass der beanspruchte Platz in der Linie vergrößert wird.