Test Research Inc. (TRI) und ATEcare zeigen u.a. den In-Circuit-Tester TR5001. Diese skalierbare Plattform unterstützt 3200 analoge oder 1600 hybrid digital/analoge, nicht-gemultiplexte Testpunkte.
Optional ist das Gerät mit On-Board-Programmierung, TestJet und Boundary Scan erweiterbar. »ToggleScan« und »VregTest« sind TRIs neueste patentierte Testlösungen im ICT-Bereich, die Funktionalitäten von Boundary Scan mit TestJet-Möglichkeiten verknüpfen und damit auch unzugängliche Teile der Leiterplatte testbar machen können.
Halle A1, Stand 454, www.atecare.net