Testsysteme

Künstliche Intelligenz im Prüffeld

Entwicklungsprojekt für KI-gestützte Messdaten-Analyse

MCD Elektronik hat im Rahmen eines Entwicklungsprojektes aufgezeigt, wie sich Unternehmen Künstliche Intelligenz im Prüffeld zunutze machen können – von der Parameter- und Testablaufoptimierung bis hin zu Trenderkennung und Statistikerstellung.

Video-Interview mit eloprint

»3D-gedruckte Prüfadapter sind mehr als eine gute Alternative«

3D-Druck ist nicht nur eine preiswerte Art, Prüfadapter herzustellen, sondern er…

Interview mit Prettl Electronics

»Frühzeitige Trendanalysen sichern die Qualität«

Elektronikfertiger müssen Schwankungen und Schwachstellen im Produktionsprozess…

Energiespeicher

Batterielaufzeiten von Herzschrittmachern verbessern

Herzschrittmacher haben einen Nachteil: Ihre Batterien müssen regelmäßig ausgetauscht…

Advertorial

MCD entwickelt KI-gestützte Messdaten-Analyse

Die rasante Entwicklung der digitalen Transformation führt dazu, dass Künstliche…

Flughafen Rotterdam Den Haag

Kommunikationsstörungen mit Schallkamera behoben

Elektrische Probleme an einem Umspannwerk haben am Flughafen Rotterdam Den Haag zu…

Serienfertigung von Photonik-Chips

Das erste vollautomatisierte Testsystem kommt von Keysight

Der Silizium-Photonik wird eine große Zukunft prognostiziert, vor allem in Rechenzentren.…

Rohde&Schwarz und Cadence

Bessere Simulationen für HF-Entwickler

R&S erweitert die EDA-Software von Cadence um ein Plug-in, mit dem sich schon in der…

Lesestoff für Entwickler und Maker

10 Themen, die Developer wirklich interessieren

Was haben die Ingenieure und Experten aus den Entwicklungsabteilungen und Laboren im…

3-phasiges HV-Breakout-Modul

Leistungsanalyse im elektrischen Antriebsstrang

Das HV-Breakout-Modul (HV BM) 3.3 von CSM Computer-Systeme-Messtechnik ermöglicht…