GE Inspection Technologies
2D- und 3D-Röntgeninspektion
Highlights auf dem productronica-Messestand von GE Inspection Technologies sind das 2D-Mikrofokusröntgenprüfsystem »phoenix x|aminer« und das »phoenix nanotom m«, ein besonders hochauflösender Computertomograph für 3D-Analysen elektronischer Bauteile mit einer minimalen Voxelgröße von bis zu 300 nm.
Der »phoenix x|aminer« eignet sich als Einsteigersystem für die genaue Prüfung von Lötstellen. Er bietet 2 MPixel Auflösung und eine hohe Vergrößerung. Sein »phoenix-ovhm«-Modul erlaubt eine Schrägdurchstrahlung bei einem Projektionswinkel von bis zu 70° sowie eine totale Vergrößerung von >23.000-fach.
Zudem ist das System dank seiner offenen 160-kV-Mikrofokusröntgenröhre wartungsarm. Gleichzeitig durchdringen seine 20-W-Röhrenleistung selbst Komponenten mit extrem hoher Strahlungsabsorption.
Die Navigation auf der Leiterplatte erfolgt einfach und präzise per Computermaus oder Joystick.
GE Inspection Technologies auf der productronica 2011: Halle A2, Stand 277
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