Messen + Testen

Sensoren im Tandem

Zwei neue Sensorsysteme – »Calix« und »Metis« – von LAP sorgen für hochpräzise Dicken- und Dimensionsmessungen an schwierig zu messenden Oberflächen und großen Objekten. Dabei nutzt der Hersteller die Vorteile der Lasertechnik.

VDE kooperiert mit italienischem Prüflabor IMQ

Das VDE-Institut und die Mailänder Prüf- und Zertifizierungsorganisation IMQ arbeiten…

Halbleiter-Charakterisierungssystem für Solarzellentest erweitert

Keithley hat sein Halbleiter-Charakterisierungssystem 4200-SCS um eine Reihe an Hardware-,…

Tektronix kauft Arantech

Tektronix Communications hat die irische Arantech übernommen. Arantech bietet CEM-Lösungen…

Dacore und Rohde & Schwarz: Schnittstelle für EMV-Prüflabore

Die in Heroldsberg ansässige Dacore Datenbanksysteme hat zusammen mit dem Münchener…

Gastkommentar: Hans Baka von Digitaltest über die Aufbauarbeit des Mittelstandes

Die Hersteller von IC- und Baugruppentestern befinden sich im Sog der Halbleiterindustrie.…

FRT verzeichnet hohe Steigerung beim Auftragseingang

Positive Meldungen kommen von Fries Research & Technology (FRT). Der Hersteller von…

Endress+Hauser Flowtec expandiert in China

Die schweizer Endress+Hauser Flowtec AG, Hersteller magnetisch-induktiver…

Optische Messtechnik erobert neue Anwendungsbereiche

Die optischen Technologien sind nach Überzeugung der Messtechnik-Spezialisten von Yokogawa…

Systec und Optisense kooperieren

Die in Münster ansässige Systec GmbH und Optisense mit Hauptsitz in Lünen bündeln ihre…