Messen + Testen

PCIe 3 und Co

Schnelle Schnittstellen testen

Die Übertragungsgeschwindigkeiten serieller Schnittstellen werden immer größer. Für Funktionstests in Entwicklung und Fertigung von hochintegrierten „System On Chip”-Halbleitern müssen sich auch die Testsysteme weiterentwickeln. Ein Ergebnis ist…

Interview mit Roland Steffen

»Messgeräte müssen mit der technologischen Entwicklung schritthalten«

Funk-Kommunikation und schnellere Prozessoren stellen Entwickler vor neue Aufgaben. Wie…

Turck-Gruppe verliert ihren Mitbegründer

Werner Turck verstorben

Werner Turck, Mitbegründer der Turck-Gruppe, ist am 25. April 2015 unerwartet im Alter von…

Management-Buyout

Datel ist nun eigenständig

In den letzten Jahren war Datel eine Geschäftseinheit von Murata Power Solutions. Nun hat…

Lab-on-Spoon

Vorkoster mit elektronischer Zunge

Wachsende Verfälschungen und Kontaminationen von Lebensmitteln machen eine preiswerte…

Hochleistungs-Wärmebildkamera

Temperaturen schnell und exakt erfassen

Kontaktlose Temperaturmessungen in Industrie, Medizin und Elektronik werden überwiegend…

Radartechnik im SmartHome

Berührungslose Atmungsüberwachung

Der Bereich der SmartHome-Anwendungen wird oft mit reinem Komfort verknüpft. Doch gerade…

Bilanz 2014

Sensorik-Forschungszentrum CTR wächst und wächst

Das Sensorik-Forschungszentrum CTR Carinthian Tech Research blieb 2014 weiter auf…

Neue Sensoren im April

Ultraklein mit hoher Auflösung

Sensoren müssen immer kleiner werden, damit Smartphones und Tabletts immer flacher werden…

Pickering Interfaces

Viele neue Schaltmodule und Chassis

Pickering Interfaces präsentiert sich auf der diesjährigen SMT/Hybrid/Packaging erneut…