Messen + Testen

Prüft DRAM- und NAND-Flash-Speicher

Multifunktionaler Memory-Tester

Sowohl für den Wafer Sort als auch für den Endtest unterschiedlichster Speicher-Bausteine wie LPDDR3-DRAMs, High-Speed-NAND-Flash-Speicher und nicht-flüchtige Memory-ICs der nächsten Generation eignet sich der neue Memory-Tester T5833 von Advantest.

Präzise Temperatur-Messdatenerfassung

Komplettlösungen mit zwei bis 48 Kanälen

In Kombination mit der Datenlogger-Software QuickDAQ bietet Data Translation die drei…

Inspektion transparenter, spiegelnder und…

3D-Infrarot-Scanner mit Roboteranbindung

Aimess bietet den 3D-Infrarot-Scanner R3Dscan nun auch in einer robotergeführten Variante…

Präzisionsmessverstärker für den…

Misst bis auf 0,0005 % genau

Mit einer Genauigkeitsklasse von 0,0005 und einer hohen Langzeitstabilität punkten die…

Modulare Messtechnik

Hochgenaue Arbitrary Waveform Generatoren

Die drei neuen PCIe-basierten Arbitrary Waveform Generatoren (AWG) der Serie M4i.66xx von…

Viscom

Präzise Plasmalack-Prüfung

Für das Conformal-Coating-Inspektionssystem S3088 CCI von Viscom ist ein neues Feature…

Temperatur, Magnetfeld, Druck

Neue Sensoren trotz Sommerloch

Man könnte ja meinen, die Sommerpause bremst auch die Sensorhersteller, einzig…

Verkettung von bis zu zehn Oszilloskopen

Multikanal-Analyse auf bis zu 40 Kanälen

Mit Hilfe der PC-Software N8834A von Keysight lassen sich bis zu zehn unterschiedliche…

VIP 2015

NI lädt nach Fürstenfeldbruck

National Instruments veranstaltet bereits zum 20. Mal den Technologie- und…

Übernahme

ams kauft NXPs Sensor-Geschäft

ams geht weiter auf Einkaufstour: Nach Applied Sensors und ACAM hat ams nun die…