Messen + Testen

Neues Messverfahren spürt Defekte auf

MOSFETs tief ins Herz geschaut

Forscher der Uni Erlangen-Nürnberg haben eine neue Methode entwickelt, mit der sie Defekte in SiC-Transistoren genauer, schneller und einfacher aufspüren können.

Fraunhofer IZFP

Das Ohr an der Maschine

Wissenschaftler des Fraunhofer IZFP haben ein Sensorsystem entwickelt, das anhand einer…

TDK-Tochter

Farnell nimmt Tronics MESM-Gyroskope ins Portfolio auf

Die Produktreihe Gypro von Tronics richtet sich an die Bereiche Präzisionsnavigation,…

Intelligente Umwelterfassung

Mit allen Sinnen

Sensoren werden immer kleiner, besser und schneller, doch auch die Anforderungen an sie…

Führungswechsel

Industrieveteran wird Tektronix President

Tektronix hat Marc Tremblay zum neuen President des Unternehmens ernannt. Tremblay folgt…

Temperaturüberwachung

Sensor in der Erbse

In der Biotechnologie laufen hochkomplexe Prozesse ab. Optimale Ergebnisse sind nur bei…

Neue Netzwerkanalysator-Familie von R&S

Präziser, benutzerfreundlicher und bis 43,5 GHz

Ab sofort bietet Rohde & Schwarz zwei neue Netzwerkanalysator-Modelle für die…

Zwei-Quadranten-Netzgeräte-Serie NGL200

Manchmal muss es linear sein

Nicht nur in der HF-Technik* stören Lärm und Restwelligkeit effizienter Schaltnetzteile…

Flugsicherheit bedroht

Fast 80 % mehr Zwischenfälle mit Drohnen

158 Behinderungen durch Drohnen haben Piloten im deutschen Luftraum im vergangenen Jahr…

Megatron

Kräfte bis 220 kN messen

Der Elektronik-Hersteller Megatron hat die beiden Kraftsensoren KMB51 und KMB76 in sein…