Schneller, genauer, intuitiver

30. März 2017, 7 Bilder
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Advantest erweitert mit dem neuen HF-AWGD Modul (High-Frequency Arbitrary Waveform Generator and Digitizer) die Fähigkeiten seiner EVA100 Messplattform zum Test von sehr schnellen und hochauflösenden Analog-Bauteilen. Mit dem neuen Modul kann das EVA100 System alle wichtigen Parameter von Mixed-Signal-, Präzisions- und standardmäßigen Analog-Halbleitern messen.

Das HF-AWGD Modul enthält einen zweikanaligen High-Speed-Arbiträr-Signalgenerator und einen Digitizer. Der extrem niedrige Klirrfaktor des AWG-Systems von -102 dB gewährleistet hohe Präzision. Außerdem kann der große Signalspeicher lange Signale erfassen, während der eingebaute Digitizer einen großen Eingangsbereich mit hoher Analog-Bandbreite abdeckt. Das Modul ist somit ideal für Präzisions- und High-Speed-Wandler sowie drahtlose Basisband-Bauteile geeignet.

Das Advantest EVA100 System nutzt dieselben Testsequenzen für Messungen in der Entwicklung und in der Produktion, so dass der Anwender eine standardisierte Messumgebung im gesamten Unternehmen zur Verfügung hat. Das ermöglicht eine deutlich kürzere Time-to-Market. Die Halbleiter-Hersteller müssen somit keine Zeit und Ressourcen aufwenden, um Testdaten von verschiedenen Systemen zu korrelieren. Das EVA100 verfügt über eine intuitive Bedienoberfläche (GUI), so dass keine komplizierte Programmiersprache erforderlich ist.