Das war die NI Week 2016
17. August 2016, 17 Bilder
Wichtige Hard- und Software-Features für die Erstellung intelligenter Halbleiterprüfsysteme stellt das Digital-Pattern-Instrument zur Verfügung. Das PXI-Modul für den digitalen Test von Halbleiterbauelementen bietet Herstellern von RFICs, PMICs, MEMS-Bauelementen und Mixed-Signal-ICs eine Alternative zu den geschlossenen Architekturen herkömmlicher automatisierter Halbleiterprüfsysteme.