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JTAG/Boundary Scan

Mehr als nur ein Standard

9. Juli 2010, 15:55 Uhr | Nicole Wörner

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Fortsetzung des Artikels von Teil 1

JTAG/Boundary Scan - mehr als nur ein Standard

Doch nicht nur in der direkten Montage-Line ist IEEE1149.1 nach Bergers Überzeugung auf dem Vormarsch. Interessant seien auch die Anwendungen für Run-In-Tests im Wechselklima mit aktivem Monitoring, wo über den seriellen Testbus sogar selektive Schaltungspartitionen gestresst werden könnten. Darüber hinaus sei auch die In-System-Programmierung von Flash-Bausteinen auf mehreren Boards gleichzeitig eine mit vielen Vorteilen besetzte Option gegenüber dem Flashen von Einzelkomponenten mit nachfolgender Selektivmontage.

Auch im Feld, also der letzten Produktlebensphase, kann Boundary Scan hilfreich sein. So ist es möglich, Systeme per Fernwartung zu kalibrieren, ein Upgrade der Firmware vorzunehmen oder diagnostische Tests zur Lokalisierung der auszutauschenden Einheit vorzunehmen. Dabei steigern sich die Effekte mit der Komplexität, der Entfernung der Systeme, sowie dem im Feld befindlichen Volumen. Allerdings müssen dazu die Grundlagen durch entsprechendes Design vorhanden sein.

Was kommt als nächstes?

Die JTAG/Boundary-Scan-Technologie ist nach Überzeugung des Experten noch lange nicht an ihre Grenzen gestoßen, es kommen immer neue Einsatzgebiete hinzu. So eröffnete Göpel mit der 2008 vorgestellten Streaming-Technologie VarioTAP im Bereich der Emulation neue Möglichkeiten. VarioTAP vereint zwei bis dato getrennte Bereiche: Die Kombination aus dem statischen Boundary-Scan-Testverfahren und den dynamischen Möglichkeiten des Funktionstests mittels eines auf der Baugruppe integrierten Mikroprozessors, der über einen IEEE-1149.1-kompatiblen JTAG-Port erreichbar ist. Grundlage dieser Technologie sind spezielle Beschreibungen für die Mikroprozessoren, bezeichnet als VarioTAP-Modelle. Sie enthalten die gesamte Funktionalität für einen Prozessor. Der an dieser Stelle möglichen Vielfalt sind keine Grenzen durch das System gesetzt. Damit wird die Programmierung der internen Flashkomponenten (Std. IEEE 1532) von Mikroprozessoren so vereinfacht, dass sie in die bisherigen Komponenten zur automatischen Flash-Programmgenerierung integriert werden konnte.

»Der Erfolg des Boundary-Scan-Standards IEEE1149.1 hat alle daran Beteiligten zu vielen neuen Ideen angeregt, das Testverfahren noch besser und grenzenloser zu machen«, resümiert Berger. »Die Welt des Boundary Scan ist demnach geprägt vom kommenden Einsatz existierender Standards sowie der Vorstellung neuer Standards.«