Halbleiter

Friedrich-Alexander-Universität

SiC besser verstehen

Forscher der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU) haben eine einfache und zugleich präzise Methode entwickelt, wie sie Defekte in SiC-Transistoren aufspüren können.

Micron und Qualcomm

Kooperation für Automotive-Cockpits

Micron und Qualcomm Technologies entwickeln gemeinsam Rechnersysteme für Fahrzeug-Cockpits…

Synapticon

Neues Geld für weiteres Wachstum

Eine neue Finanzierungsrunde hat Synapticon jetzt erfolgreich abgeschlossen. Damit stehen…

BDI

Deutsche Industrie fordert härteren Kurs gegenüber China

China rückt zunehmend ins Zentrum der Weltwirtschaft. Es ist auch ein Wettbewerb der…

Phase Change Memories

Neuer PCM-Typ: Schnell und zuverlässig

Wissenschaftlern ist es gelungen, einen neuen Phase-Change-Memory-Typ zu entwickeln, der…

Toshiba Memory

PCIe-SSDs bis 1 TB

Mit den PCIe-SSDs der neuen BG-Serie zielt Toshiba Memory auf den Einsatz in Notebooks und…

Entwickler-Werkzeugkasten für KI

STM32-Entwicklungssystem um KI-Funktionen erweitert

Um neuronale Netze in Endgeräten und Edge-Knoten realisieren zu können, erweitert…

Fortune

IBM bleibt Patentweltmeister

Auch 2018 konnte IBM den ersten Platz im Fortune-Ranking ergattern, in dem die Firmen…

Smartphone-Markt

Samsung kündigt Gewinneinbruch an

Der scharfe Wettbewerb und die Konkurrenten aus China machen es dem Marktführer Samsung…

Imec/TNO

Wegwerfpflaster für die Messung von Vitalparametern

Das belgische Forschungszentrum Imec und TNO (niederländische Organisation für angewandte…