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IMMS Institut f. Mikroelektro. Und Mechatronik-Systeme GmbH

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Smartes Maschinenmonitoring

Anomalien mit Edge-KI detektieren

KI-basiertes Maschinenmonitoring kann viel Zeit sparen, kostet aber oft viel Aufwand bis zum Einsatz. Oft fehlen auch Trainingsdaten. Zwei neue Methoden können per unüberwachtem Lernen Anomalien erkennen, ohne Fehlerzustände vorab zu trainieren. Die…

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Med-Chips: Optoelektronischer Biosensor

Labor adé? Neues CMOS-Biochip-System für Point-of-Care-Diagnostik

Doktorarbeit mit Ausblick: Alexander Hofmann vom IMMS stellt wegweisende technische…

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Test analoger und digitaler Strukturen

Mixed-Signal-Analyse wird mobiltauglich

Gerade einmal Milchtüten-groß ist das neue Testsystem des IMMS für den Test und die…

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Smartes Schadstoffmonitoring

Energieautarkes System behält Feinstaub permanent im Blick

Feinstaub ist für Menschen und Ökosysteme gefährlich – daher gelten in der EU gesetzliche…

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Nachrüstbares Monitoring

Defekte Straßenlampen clever ausfindig machen

Das Instandhalten der Straßenbeleuchtung ist für Kommunen sehr aufwändig. Vor allem an der…

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Lichtmessungen für die Quantenforschung

Einzelphotonen mit CMOS-SPADs präzise messen

Lassen sich kostengünstig in Standard-CMOS-Technologie herstellbare Einzelphotonenzähler…

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Testbench in Hardware

Validierung KI-basierter Simulationsmethoden im Chip-Entwurf

Die modulare Analog-Mixed-Signal-Testplattform AMS ASIC Scope von IMMS hilft bei der…

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IC-Entwicklung

Effizientere Simulation mit KI-basierter Modellfehlerschätzung

Um den Rechenaufwand für die Schaltungssimulation zu senken, werden oft vereinfachte…

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IC-Entwicklung automatisieren

Forschungsarbeit über neue Simulationsmethoden

Um den Entwurf von ICs schneller und zuverlässiger zu gestalten, wird am IMMS Institut für…

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In-vitro Diagnostik

Teststreifen mit CMOS-Sensoren auslesen

Neue Chip-Plattform für Europium-Fluoreszenzmessung mit CMOS-Lock-In für eine schnelle und…

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