Prüftechnik auf der productronica 2025

Inspektionssysteme mit KI-gestützter Fehleranalyse

Vernetzte SPI-, AOI- und AXI-Systeme mit KI-gestützter Fehleranalyse und Automatisierung stehen im Mittelpunkt des Messeauftritts von Omron. Die Lösungen verbinden Steuerung, Bewegung, Sensorik, Sicherheit und Bildverarbeitung zu einer Plattform, die Fehlererkennung und Prozessoptimierung in der Elektronikfertigung ermöglicht.

Im Fokus stehen KI-basierte Algorithmen, die sich selbstständig anpassen und so hohe Präzision bei der Prüfung von SMT-, Elektronik- und Halbleiterbaugruppen erreichen.

Alle Inspektionssysteme sind mit Omrons eigener Automatisierungstechnologie aufgebaut und lassen sich über Produktionslinien hinweg vernetzen. Ziel ist eine durchgängig kontrollierte und flexible Fertigung.

Zu den ausgestellten Systemen zählen:

•    VP01G (SPI): 3D-Lötpasteninspektion mit Multi-Resolution-Zoom bis 5 µm und Closed-Loop-Anbindung an Druck- und Bestücksysteme.

•    VT-S1080 (AOI): Optische Inspektion mit KI-gesteuerter Bildanalyse für anspruchsvolle Baugruppen.

•    VT-X750 (AXI): Inline-CT-Röntgeninspektion für verdeckte Lötstellen mit reduzierten Scanzeiten.

Neben dem eigenen Stand präsentiert Omron auch gemeinsam mit dem Fraunhofer-Institut IFAM in Halle B2 (Stand 539) Anwendungen aus der Elektronik- und Halbleiterfertigung.

Omron, Halle A2, Stand 435 und Halle B2, Stand 539