Technische Akademie Esslingen
Neue IC-Technologien – Chancen und Ausfallrisiken
Die Technische Akademie Esslingen veranstaltet am 3. und 4. Mai ein Seminar zum Thema Robustheit und Zuverlässigkeit von ICs, besonders in Hinblick für ihren Einsatz in Autos.
Neue Halbleitertechnologien werden im Markt der High-End-Siliziumtechnologien überwiegend durch Anwendungen in Consumer- und Industrie-Bereichen vorangetrieben. Strukturverkleinerungen reduzieren jedoch häufig Robustheit und Zuverlässigkeit: Die spezifisch höheren Belastungen nähern sich den materialbedingten Ausfallgrenzen.
Gegenüber früheren Generationen mit robusteren Strukturen treten nun bisher weniger relevante Ausfallmechanismen neu in den Vordergrund und bestimmen die Physik der Fehler. Ein typischer Fall tritt zum Beispiel in NAND-Flash-Speicherzellen auf: Die Strukturen der Zellen sind inzwischen so klein, dass die Data-Retention-Werte durch den erhöhten Schreib-Lese-Stress in den dünneren Gateoxiden stark reduziert und für bestimmte Anwendungen kritisch werden. Ohne Nachweis von Risikoanalysen und deren Bewertung können in schwerwiegenden Schadensfällen für verantwortliche Personen und Unternehmen rechtlich und wirtschaftlich schwierige Situationen entstehen.
Wie sich diese Probleme lösen lassen, erfahren die Teilnehmer des Premium-Seminars »Neue Halbleitertechnologien – Chancen und Ausfallrisiken«, das die Technische Akademie Esslingen am 3. und 4. Mai unter Leitung von Dipl. Ing. Helmut Keller durchführt. Hier finden Sie das Programm im Detail.
Dabei geht das Seminar auch auf die relativ neuen Wide-Band-Gap-Technologien ein, auf deren Basis leistungsfähigere Hochleistungsschalter und schnellere Hochgeschwindigkeitstransistoren gefertigt werden können, die jetzt in der Industrie- und Automobilelektronik Einsatz finden. Die prominentesten Vertreter sind zur Zeit GaN und SiC.
Das sind die Lernziele für die Teilnehmer des Seminars »Neue Halbleitertechnologien – Chancen und Ausfallrisiken«:
- Methoden zur Planung und Umsetzung von Zuverlässigkeit anzuwenden und sie als »Frühwarnsystem« in der Feldüberwachung einzusetzen.
- Die Teilnehmer werden in die Lage versetzt, Auskunft über Ausfallursachen, Fehlersystematik und eventuelle Planungsfehler zu geben.
- Sie können Mission Profiles erstellen und Funktionsbeschreibungen so formulieren, dass ein definierter Sicherheitslevel erreicht wird.
- Zu den Details persönlicher Haftungsrisiken können sie Auskunft geben.
Das Seminar wendet sich an folgende Zielgruppen:
- Technische Geschäftsführer
- Entwicklungs-/Projekt-/Produktionsleiter
- Prokuristen
- QM-Verantwortliche
- Mitarbeiter in Entwicklung, Einkauf, Vertrieb, Marketing, Produktion, Rechtsabteilungen
