Fraunhofer IOF: Neues 3-D-Messverfahren

10. April 2008, 15:10 Uhr | Ursula Grimm, elektroniknet.de
Diesen Artikel anhören

Fortsetzung des Artikels von Teil 1

Die Vorteile der neuen Messmethode

pi32_lensshape_tcm5-94198_ug.jpg

Die Vorteile der neuen Messmethode:

Das optische 3-D-Scan-System erhöht erheblich die Geschwindigkeit einer Messung, die damit nur noch 15 Minuten dauert. Da außerdem kein Taster die Oberfläche berührt, werden Kratzer vermieden, und der Bearbeitungsprozess lässt sich sofort mit Hilfe der gewonnenen Daten korrigieren. »Wir projizieren dazu mit einem digitalen Projektor Streifen auf die Freiform, die mit einer CCD-Kamera aus unterschiedlichen Richtungen aufgenommen werden, und werten die Verformungen mit einem speziellen mathematischen Verfahren am PC aus. Dabei lassen sich die Abweichungen im Bereich eines Mikrometers gegenüber den Sollwerten schnell und einfach feststellen. Das besondere am neuen Verfahren ist, dass die gewonnen Daten außerdem für den anschließenden Schleifvorgang genutzt werden können. Damit ist der Korrekturkreis geschlossen«, erklärt Notni.

Besonders Hersteller von Autoscheinwerfern und Beamer-Linsen können von dem neuen Prüfverfahren profitieren. Doch sieht Notni weitere Einsatzmöglichkeiten der Messmethode: »Während die Carl Zeiss GmbH die Messvariante bis 300 Millimeter benötigt, können wir auch kleinere Optiken bis sogar unter 10 Millimeter vermessen«, führt Notni aus. So testet derzeit ein weiterer Optikhersteller die Technologie für die Vermessung von besonders kleinen Optiken für die Lichtauskopplung von LEDs.


  1. Fraunhofer IOF: Neues 3-D-Messverfahren
  2. Die Vorteile der neuen Messmethode

Jetzt kostenfreie Newsletter bestellen!