Produkt

Industrie-Computer / Embedded PC

Design-for-Testability-Methode zwingt Entwickler zu Kompromissen bei komplexen SoCs.  Eine neue Testmethode nutzt eine Bus-Architektur um Testdaten paketweise zu übertragen
© Siemens EDA

Design for Testability

Keine Kompromisse, dank Paket-basierten Testdaten

Die bisher übliche Design-for-Testability-Methode stößt bei komplexen SoCs an Grenzen und zwingt Entwickler zu Kompromissen. Eine neue Testmethode kennt diese Limitierungen nicht. Sie nutzt eine Bus-Architektur um Testdaten paketweise zu übertragen – schneller und effizienter als zuvor.

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