Produkt

Qualitätskontrolle für die Chipindustrie

Erstmals unsichtbare Unebenheiten auf Wafern messen

Bislang nur unvollständig und aufwändig zu ermittelnde Unebenheiten auf Halbleiterscheiben sind mit dem von Dr.-Ing. Alexander Tobisch am Fraunhofer IISB entwickelten Messverfahren leicht und preiswert zu detektieren. Hierfür erhielt er den…

Interview with Dr. Peter Wawer

Why Infineon acquired Siltectra

Why is Infineon investing 124 million euros in a start-up? DESIGN&ELEKTRONIK met Dr. Peter…

Investition in Software

Asys Group beteiligt sich an motives Software

Die Asys Group beteiligt sich an motives Software und intensiviert dadurch die bereits…

Ultrakurzpuls-Laserabtragen

Hail-Tec startet ersten Service

Als erstes Unternehmen in Deutschland bietet Hail-Tec Ultrakurzpuls-Laserabtragen…

Plagiarius Wettbewerb 2019

Gesucht: die dreistesten Produktfälschungen

Betroffene Unternehmen, Designer und Erfinder haben noch bis zum 30. November die…

Beta Layout

Leiterplatten bestellen per Drag & Drop

Leiterplatten-Layout hochladen und Preis berechnen lassen: So funktioniert die neue…

Fraunhofer IEM

MID-Technologie bringt Freiheit beim Elektronikdesign

Warum elektronische Schaltungen nicht platzsparend auf angepasste dreidimensionale…

Herzfrequenz-Sensoren für Wearables

Teil 2: Praxis-Leitfaden für die Entwicklung

Dies ist der zweite Teil einer dreiteiligen Artikelserie über optische…

Nach Übernahme durch KSG

Marke "Häusermann" verschwindet

Der österreichische Leiterplattenhersteller Häusermann wurde 2017 von KSG Leiterplatten…

Leiterplatten-Layout

Mit Simulation schnell zum funktionierenden PCB-Layout

Die Software SIwave überprüft die Signalintegrität und vermeidet böse Überraschungen beim…