Power

Interview mit Leo Lorenz, ECPE

»Neue Fehler tauchen immer wieder auf«

Robustheit und Zuverlässigkeit sind stets wiederkehrende Themen bei den Leistungshalbleitern. Das hat nicht nur mit den neuen Wide-Bandgap-Materialien zu tun. Auch bei Silizium stellen sich diese Herausforderungen immer wieder neu. Dazu fragen wir Professor Leo Lorenz, den Vorsitzenden der ECPE.

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Konfigurierbare 20-V-Hochstrom-PMICs

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IGBTs mit Gate-Treiber und Schutz

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