Die Entwicklung bei Advantest in Böblingen

21. September 2017, 14 Bilder
© Matthias Heise, Elektronik

Diese Leistungssteigerung der Messmodule wurde durch die selbst entwickelten ASICs ermöglicht. In den verschiedenen Generationen wurden immer kleinere Halbleiter-Prozesse genutzt. Immer mehr Transistoren und immer mehr Prozessor-Kerne ermöglichen eine steigende Testabdeckung mit einem einzigen Modul.