Messen + Testen

Advertorial

SiC- und GaN-MOSFETs mit dem Oszilloskop schneller validieren

Die Doppelpulstest-Software auf den MSO-Oszilloskopen der Serien 4, 5 und 6 von Tektronix automatisiert wichtige Validierungsmessungen an GaN- und SiC-Leistungswandlern und lässt sich nahtlos in das Messsystem der Oszilloskope integrieren.

AMA Verband für Sensorik und Messtechnik

Vorstand wiedergewählt, Schatzmeister neu

Die AMA-Mitglieder haben den bisherigen Verbandsvorstand wiedergewählt. Lediglich der…

»Mixed Reality«

Computer-Brille von Apple wohl kurz vor dem Launch

Auf Twitter kündigte Apple für seine Entwicklerkonferenz WWDC nicht weniger als eine »neue…

Leistungsmesstechnik punktet

Testmethoden für Transformatoren

Es gibt zahlreiche Methoden zur Prüfung von Transformatoren, die z.B. Hochspannung aus…

Mitarbeiter erreichen Spendenziel

Endress+Hauser Water Challenge geschafft!

Im Jahr des 70. Geburtstags von Endress+Hauser haben sich die Mitarbeiter des Konzerns…

Elektronisch-photonische Integration

Rohde & Schwarz und IEMN kooperieren für 6G THz

Rohde & Schwarz und das französische Institut für Elektronik, Mikroelektronik und…

Experten mahnen

»Risiken von KI ernst nehmen«

Eine Reihe führender Experten für Künstliche Intelligenz sieht in der Technologie eine…

Produktentwicklung im Fokus

Neuer Entwicklungsleiter bei Danisense

Lars Fox ist neuer Forschungs- und Entwicklungsleiter beim Strommesswandler-Spezialisten…

Marcus Lickes verstärkt Führungsteam

Phytec Messtechnik weitet Geschäftsführung aus

Die Phytec Messtechnik GmbH hat Marcus Lickes zum weiteren Geschäftsführer ernannt.…

ASIL-C-Magnetfeldsensoren

Störfeldrobuste Motorpositionserfassung

Mit höchster Winkelgenauigkeit selbst unter schwierigen mechanischen und elektrischen…