Messen + Testen

© National Instruments

PXI-Digitizer

Flexibel und hochauflösend

Mit dem PXI-basierten Digitizer NI PXIe-5162 und der aktualisierten Version des NI LabVIEW Jitter Analysis Toolkit bläst National Instruments zum Angriff auf Anwendungen, die bislang meist Stand-alone-Oszilloskopen vorbehalten waren.

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Oszilloskoptechnik

Schnelle Verifikation von USB-2.0-Schnittstellen

Für die Oszilloskope der Serie R&S RTO von Rohde & Schwarz gibt es jetzt eine Software,…

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© DARPA

Inertial-Messtechnik

Präzisions-Navigation völlig ohne GPS

Eine technische Sensation: Was früher mit massiv schweren und teuren Kreisel-Systemen…

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Tektronix

70 GHz Echtzeitbandbreite ab 2014

Tektronix kündigt für 2014 eine Oszilloskop-Plattform an, die eine Echtzeitbandbreite von…

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Jahresabschluss 2012

Rekordjahr für Sick

Sick hat das Geschäftsjahr 2012 mit Höchstwerten bei Umsatz, Auftragseingang, EBIT und…

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© Agilent Technologies

Oszilloskop-Know-how

Was ist genauer: eine dicke oder dünne Messkurve?

Wie genau ein Oszilloskop ein Signal anzeigt, ist ein Maß für seine Qualität. Aber…

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Schwingungsmessung

Optik sucht Akustik

Die Optimierung der akustischen und schwingungstechnischen Eigenschaften von Bauteilen…

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© Tektronix

Labormesstechnik

Leistungen hochpräzise bestimmen

Der Leistungsanalysator-Markt weitet sich um hochinteressante, neue Geräte aus: nachdem…

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© MTQ Testsolutions

MTQ Testsolutions

Testsoftware in neuer Version

MTQ Testsolutions hat eine neue Version der Testsoftware »Tecap« entwickelt. Die Version 3…

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Omron / ATEcare

AOI, AXI und SPI live erleben

Der Distributor ATEcare stellt auf der SMT 2013 die AOI/AXI/SPI-Produkte seines Partners…

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