Messen + Testen

National Instruments

PXI-SMU mit hoher Kanaldichte

Mit der sechsfachen Kanaldichte im Vergleich zu den Vorgängermodellen wartet die für das Testen von RF-, MEMS- sowie Mixed-Signal- und analogen Halbleiterbauelementen ausgelegte Source Measure Unit (SMU) PXIe-4163 von National Instruments auf.

Akkreditierungsverfahren

DAkkS vereinfacht Antragstellung

Unternehmen, die bei der Deutschen Akkreditierungsstelle (DakkS) einen Antrag auf…

Digitaltest

Neue Kamera für Flying Prober

Digitaltest stattet sein Flying-Prob-Testsystem Condor künftig mit einer neuen Kamera aus.…

Rohde & Schwarz und Gemalto kooperieren

Feldtests für LTE-Advanced-Module simulieren

Rohde & Schwarz entwickelt mit Gemalto ein Testsystem für LTE- und LTE-Advanced-Module,…

Neues aus der Foschung

Flüssiges Wasser bei -42,6 °C nachgewiesen

Ein Forscherteam des GSI Helmholtzzentrums für Schwerionenforschung hat flüssiges Wasser…

Polytec / Luna Innvoations

Faseroptische Temperatur- und Dehnungsmessung

Der faseroptische Interrogator ODiSI 6100 von Luna Innovations misst Temperatur- und…

Messungen an Leistungshalbleitern

Das bringen isolierte Eingänge

Moderne Halbleiter ermöglichen bisher unerreichte Wirkungsgrade bei immer höheren…

Design-Praxis

Echtzeitfähiges Multi-GHz-Streaming-System

Unterschiedliche Möglichkeiten zur kontinuierlichen Datenübertragung und -verarbeitung in…

European Microwave Week 2017

DESIGN&ELEKTRONIK Lecture

Die European Microwave Week schafft mit drei Konferenzen und dazu paralleler Ausstellung…

Bilderstrecke

Produktneuheiten auf der "EMV 2018"

Vom 20. bis 22. Februar 2018 findet auf dem Düsseldorfer Messegelände erneut die "EMV -…