Messen + Testen

Serie „KI in der Baugruppeninspektion"

»KI muss beweisen, kein Hype zu sein«

KI bringt viele Vorteile - in der Fertigungslinie und vor allem in der Baugruppeninspektion. Doch sie muss richtig eingesetzt werden, wie Johannes Richter von Göpel Electronic erklärt. Dabei gehe es vor allem um Transparenz und den Mehrwert für den…

Forschungskooperation für 6G-Mobilfunk

Terabit durch Terahertz

Rohde & Schwarz forscht mit den beiden Fraunhofer-Instituten HHI und IAF an…

Inspectis / ATEcare

4K-Mikroskope mit Focus Stacking

Inspectis bietet seine hochauflösenden UHD (4K) Video-Mikroskope jetzt auch mit…

Mit Laserschutzklasse 1 und IO Link

Lasersensor mit hoher Reichweite

Abstandsmessungen mit Reichweiten bis zu 5 Metern lassen sich mit dem Lasersensor PT230020…

Yamaichi Electronics

Ein Prüfadapter für alle Fälle

Die Kontaktierung hochkomplexer, winzig kleiner Baugruppen wird zunehmend zur…

Omron

»Zero-Defect-Konzept« für mehr Sicherheit

Die Experten von Omron haben eine Vision: Mit Hilfe eines durchgängigen und aufeinander…

Frist für Osram-Kauf läuft

ams will Übernahme jetzt schaffen

Von heute bis zum 5. Dezember läuft die Annahmefrist für das neue Übernahmeangebot von ams…

Seica ergänzt Flying-Probe-Testsysteme

Premiere für Batterie-Testsystem

Seica hat eine neue Lösung für den Batterietest für Elektrofahrzeuge entwickelt. Der Pilot…

MCD Elektronik

Schaltbarer Sechsfach-USB-3.0-Hub

MCD Elektronik hat einen Hub mit sechs USB-Downstream-Ports gemäß USB-3.0-Standard…

EMV-konforme Elektronikentwicklung

2D- und 3D-EMV-Scanner

Für entwicklungsbegleitende EMV-Prüfungen sind zwei bewährte Typen von 2D-EMV-Scannern…