Messen + Testen

Cranfield University

Mit gepulster Thermografie gefälschte ICs zerstörungsfrei finden

Nicht verifizierte oder gefälschte ICs können zu Fehlfunktionen sicherheitskritischer Systeme führen und damit deren Zuverlässigkeit stark verringern. Forscher der britischen Cranfield University haben eine schnelle, zerstörungsfreie Methode vorgestellt, die auf gepulster Thermografie basiert.

Qualitätssicherung und Produktion in 3D

Brillenlose UHD-Visualisierung

Die Solectrix sinaScope-Plattform digitalisiert die analog erfassten Bilder latenzarm...

Keysight

Zweitgrößter Geschäftsbereich unter neuer Leitung

Keysight Technologies hat Ee Huei Sin zur neuen Leiterin des Geschäftsbereichs...

Für I40- und IIoT-Umgebungen konzipiert

Positionssensoren unterstützen IO-Link

Für Industrie-4.0- und IIoT-Anwendungen hat Sensata die Hall-Effekt-Winkelsensoren ACW4...

Binder ITZ

Neues Direktdruckverfahren

Das Team des „Binder Innovations- & Technologie Zentrum“ ITZ hat ein...

Keysight-Personalia

CTO verabschiedet sich in den Ruhestand, neuer COO kommt

Der Messtechnik-Hersteller Keysight vermeldet Änderungen in der Führungsspitze: Satish...

Europaweites Vertriebsabkommen

Batronix wird Keysight-Distributor

Zum 1. Oktober 2020 erweitert der Messtechnik-Distributor Batronix sein Portfolio um...

Für eine optimierte Batterielebensdauer

Strommessungen mit neunstelligem Dynamikbereich

Bei der Entwicklung von Batterien für IoT-Geräte muss ein Tester gleichzeitig...

Neue Oszilloskop-Plattformen

»Der Bedarf an Mehrkanalmessungen wächst«

Für immer mehr Anwendungen sind mehr als die obligatorischen zwei oder vier...

Jeder kann Feinstaub messen

Der kleinste Partikelsensor der Welt

Jetzt ist es erstmals möglich, gesundheitsgefährdendem Feinstaub auszuweichen: Ein...