Teradyne und ficonTEC
Wafer Probe Test für Silizium-Photonik
Teradyne und ficonTEC haben eine Wafer-Level-Testmethode entwickelt, um erstmals den beidseitigen Test für Silicon Photonic ICs mit hohem Durchsatz für die Stückzahlfertigung von Co-Packaged-Optics (CPO) und optischen Transceivern durchführen zu…