U-I-Charakterisierungssystem
High-speed-Halbleiter präzise charakterisieren
Mit dem Ultra-Fast-I-V-Modul 4225-PMU ergeben sich neue Mess-/Stimulus-Funktionen für das Keithley-Halbleiter-Charakterisierungs-System 4200-SCS zur Analyse an modernen High-speed-Halbleitern.
Das Modul erzeugt Spannungssignale mit äußerst steilen Flanken und bietet auch Funktionen zur Messung von Strömen/Spannungen mit einen sehr großen Dynamikbereich im Hinblick auf alle Spannungs-, Strom- und Zeit-Parameter. Hierzu enthält das Modul zwei Quellen- und Messkanäle, jeder Kanal kombiniert sehr schnelle Spannungsausgänge (mit Impulsbreiten von 60 ns bis DC) mit simultanen Strom- und Spannungsmessungen.
Diese Strom- und Spannungsmessungen sind mit Erfassungsraten bis zu 200 MS/s mit 14 bit A/D-Auflösung möglich, wobei zwei A/D-Wandler pro Kanal (also vier A/Ds pro Karte) zum Einsatz kommen. Es stehen dabei zwei Spannungs- (bipolar 10 V oder 40 V hochohmig) und vier Strommessbereiche (800, 200, 10 und 0,1 mA) zur Verfügung. Jedes Modul kann mit bis zu zwei optionalen Remote Amplifier/Switches Modell 4225-RPM ausgestattet werden, die vier zusätzliche Bereiche für kleine Ströme bieten.
