WLAN-Signale: Tests in High-speed realisieren
National Instruments bringt ein neues Prüfkonzept für WLANs auf den Markt. HF-Signale können damit viermal schneller als mit anderen modularen Messlösungen und bis zu zehnmal schneller als mit herkömmlichen Stand-alone-Geräten erzeugt und analysiert werden.
Der Messplatz besteht aus dem HF-Vektorsignalanalysator NI PXIe-5663 und dem HF-Vektorsignalgenerator NI PXIe-5673 für Signale bis 6,6 GHz, dem 18-Slot-PXIe-Chassis 1075 für hohe Übertragungsbandbreiten sowie dem Dual-Core-Controller NI PXIe-8106.
Der Analysator 5663 kann Signale von 10 MHz bis zu 6,6 GHz mit einer Bandbreite von 50 MHz erfassen. Der RF-Vektorsignalgenerator NI PXIe-5673 erzeugt dagegen Signale von 85 MHz bis 6,6 GHz mit einer Bandbreite von bis zu 100 MHz.
Möglich sind mit diesem Messsystem EVM-Messungen (Error Vector Magnitude) bis in den Bereich von -44 dB. Aufgrund dessen kann das gleiche Messsystem sowohl im Bereich Forschung und Design, wo Messgenauigkeit von größter Bedeutung ist, als auch im Produktionstest eingesetzt werden, wo es vor allem auf den Prüfdurchsatz ankommt.
Softwareseitig besteht das neue Konzept aus dem WLAN Generation Toolkit sowie dem Analysis Toolkit für LabVIEW und LabWindows/CVI. Beide Toolkits werden mit einer Reihe von Beispielprogrammen ausgeliefert, die Anwender bei der schnellen Inbetriebnahme von Prüfanwendungen unterstützen. Signale der Standards 802.11 a/b/g können mit dem WLAN Generation Toolkit in Datenbereichen von 1 Mb/s bis zu 54 Mb/s erzeugt werden.
Darüber hinaus ermöglicht das Toolkit Messungen der physikalischen Schicht wie Sendeleistung, Error Vector Magnitude (EVM) und Spectrum Mask. Zusätzlich zu diesen Vorteilen führt die PXI-basierte HF-Prüfplattform jede dieser möglichen Messungen bis zu zehnmal schneller durch als andere Verfahren, so der Anbieter. Mit dem Controller NI PXIe-8106 sollen EVM-Messungen nur 8 ms dauern, und 66-MHz-Spectrum-Mask-Messungen sollen in 18 ms vorgenommen werden können.
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