Markt & Technik

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R&S und FormFactor

HF-Performance aus Wafer-Ebene charakterisieren

Die Kombination aus dem »R&S ZNA«-Vektornetzwerkanalysator von Rohde & Schwarz und der Probe-Stationen »Smmit200« von FormFactor ermöglicht den Test für die Charakterisierung der HF-Performance auf Wafer-Ebene.

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Tesla

Gewinn verdoppelt, Rekord-Halbjahr versprochen

Corona-Lockdowns in China, Material-Mangel, Chaos in den globalen Lieferketten und hohe…

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SAP

Gewinneinbruch

Europas größter Softwarehersteller SAP hat im zweiten Quartal einen deutlichen…

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Netzwerkausrüster Nokia

Gewinn deutlich gesteigert

Der Netzwerkausrüster Nokia hat im zweiten Quartal Umsatz und Gewinn gesteigert. Dabei…

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Hyundai

Deutlicher Gewinnsprung

Die solide Nachfrage nach Luxusautos hat dem VW-Konkurrenten Hyundai im zweiten Quartal…

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Lapp stellt die Weichen für die Zukunft

Die dritte Generation übernimmt

Matthias Lapp (39), ältester Enkel der Firmengründerin Ursula Ida Lapp, wird ab Oktober…

© Dr. Bahram Abdollahi Nejand/KIT

Photovoltaik

Perowskit-Perowskit-Tandem-Solarmodule vollständig skalierbar

Ein Prototyp für vollständig skalierbare Perowskit-Perowskit-Tandem-Solarmodule wurde…

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Umweltauswirkungen von Solarmaterialien

Perowskit-Silizium weniger schädlich als reines Silizium

Eine Studie hat erstmals die Umweltauswirkungen von industriell hergestellten…

© Manuel Schönfeld/Adobe Stock

Einsparpotenziale aufgedeckt

Krankenhäuser als hybride Energiespeicher nutzen

Ein flexibler Betrieb von Versorgungsanlagen, die in Krankenhäusern arbeiten, kann fossile…

© TrendForce

NAND-Flash-Markt

Preise sinken deutlich

Das Überangebot im Sektor der NAND-Flash-ICs im zweiten Quartal wächst: der steigenden…